日本王子计测OSI光学轴测定装置
王子計測光学軸測定装置 PAM-PR300
■特長
測定方式:回転偏光子法、平行ニコル回転法、直交ニコル回転法
測定波長:590nm(オプション:450nm,550nm, 630nm)
試料寸法:□30~250mm,20mm厚以下
測定面積:33mm2(5.8mm角:受光子面)
測定項目:偏光軸方位、配向角、位相差
測定対象:光学フィルム、偏光板
測定時間:約4秒(偏光軸測定)
王子計測機器株式会社
計測機器の開発・製造・販売■高分子計測機器繊維、分子、屈折率等の異方性(配向性)の解析、マイクロ波分析装置(分子配向計)、位相差測定装置■バイオセンサ生体関連化学物質の微量濃度測定、フローインジェクション方式の分析装置(バイオフロー)、環境計測装置(BODs計他)
应用领域
■高分子测量仪器
相位差薄膜、光学薄膜、通用薄膜、成型制品、橡胶、无纺布、造纸等
■生物传感器
发酵、食品、酒饮料、制药、临床检验、造纸等